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Keithley 4200A-SCS美國泰克可量身定制

更新時間:2016-12-08 點擊次數:2259

      近日,泰克科技公司推出可以量身定制的全面集成的Keithley 4200A-SCS參數分析儀,通過降低新用戶或偶爾使用的用戶面臨的特性分析復雜度,簡化測試設置,提供清楚的結果,加快了用戶獲得半導體器件、材料和工藝洞察力的速度。

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  Keithley 4200-SCS參數分析儀已經取得了巨大的成功,在此基礎上,新推出的4200A-SCS儀器采用現代工業設計,擁有全新圖形用戶界面及多種自學工具,如儀器內嵌的專家指導視頻。其結果,是測試設置時間縮短達50%,操作明顯更容易、更直觀。易用性對半導體器件研究、器件故障分析或可靠性測試等應用尤其重要,在這些應用中,多個用戶之間要共享儀器資源。

  “參數分析對商用前分析新型半導體器件、材料或測試器件的可靠性至關重要。但是,科研人員可能只需偶爾執行這些測試,因此很難成為使用參數測試儀器的專家。泰克科技公司吉時利產品線總Mike Flaherty說,正因如此,我們不遺余力地使4200A-SCS設置和學習操作方面特別簡便,即使對以前沒有參數分析儀經驗的用戶也不例外。”

 

    與上一代儀器一樣,4200A-SCS是一種全面集成的模塊化參數分析儀,可以分析材料、半導體器件和工藝的電氣特點。4200A-SCS由進行I-V特性分析的多個源測量單元、用于AC阻抗測量的電容-電壓模塊以及執行脈沖式I-V、波形捕獲和瞬態I-V測量的超快速脈沖測量單元組成,為科研人員或工程師進行材料研究、半導體器件設計、開發或生產提供了所需的關鍵參數。

 

新型開關模塊

     各種測量給半導體研究增加了進一步的復雜度,因此其還推出Keithley 4200A-CVIV四通道IV/CV開關模塊。這個模塊用于4200A-SCS主機,能夠在SMU(I-V)測量與電容-電壓(C-V)測量之間隨意切換,用戶可以把C-V測量移動到任何器件端子,而不需抬起探針或移動電纜。

      由于新型寬屏高清顯示器,4200A-SCS為交互式測試和試驗提供了更多的屏幕空間。這種顯示器與全新用戶界面相結合,既為偶爾使用的用戶提供了直觀的操作能力,又為專家用戶提供了所需的功能。全新用戶界面包括專家視圖,融匯了世界各地吉時利應用工程師的知識和智慧。這些視頻縮短了用戶的學習周期,在發生意想不到的結果時幫助用戶調試問題,對其看到的結果樹立信心。


 

 

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